HOME > 熱衝撃試験装置 > 多機能試験装置

製品紹介

真空乾燥機

ソーラーパネル、太陽電池用耐湿試験槽

熱衝撃試験装置

減圧高度試験装置

小型環境試験装置

真空乾燥機

ペーパーレスレコーダー

半導体試験装置

液晶/PDP試験装置

製品紹介

多機能試験装置

JESD A104B温度サイクル試験、MIL STD熱衝撃試験および低温、
高温試験など1台で4役をこなすマルチチャンバーをお届けします。
多機能試験装置
製品の主な特徴
  • 鉛フリー半田接点の特性評価試験に対応しています。
  • タッチパネルで簡単にモード(機能)の切替えができます。
  • 5℃/分のAGREE試験、10〜15/分のJEDEC試験をリニア制御で実現。
  • 同一筐体でいろいろなテストができるので機差ゼロ。互換性が高く試験品質を高めます。
  • 新設計の特殊ルーバーの採用により温度分布を大幅に改善
製品の標準仕様
多機能試験装置
型式 JTS-615-64 JTS-615-100 JTS-815-64 JTS-815-100 JTS-815-80
JESD温度サイクル      
主な試験条件B -55(+0、-10)〜+125(+15、-0) -55(+0、-10)〜+125(+15、-0)
C   -65(+0、-10)〜+125(+15、-0)
H -55(+0、-10)〜+150(+15、-0) -55(+0、-10)〜+150(+15、-0)
K '0(+0、-10)〜+125(+15、-0) '0(+0、-10)〜+125(+15、-0)
M -40(+0、-10)〜+150(+15、-0) -40(+0、-10)〜+150(+15、-0)
さらしモード(時間) 1、5、10、15分
MID STD熱衝撃 3ゾーン 2ゾーン 熱衝撃試験の
機能なし
高温さらし温度 150℃/15分 150℃/15分
常温さらし温度 RT/5分  
低温さらし温度 -65℃/15分 -65℃/15分
復帰時間 5分 5分
測温位置 試料ラック側面
試料 IC 5.0Kg IC 7.0Kg IC 5.0Kg IC 7.0Kg IC 5.0Kg
試験室寸法 W400×H400
×D400
W400×H400
×D600
W400×H400
×D400
W400×H400
×D600
W400×H500
×D400
本体外寸法 W1300×H1850
×D1600
W1500×H1850
×D1800
W1300×H1850
×D1600
W1500×H1850
×D1800
W1300×H1850
×D1500

試験データ

MIS STD JEDEC試験データ ※画像をクリックしていただくと拡大画像をご覧いただけます。
低温試験 高温試験
低温試験 高温試験